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[BASIC-23] 芯片测试
基础练习 芯片测试
时间限制:1.0s 内存限制:512.0MB
问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
1、测试结果矩阵中,第 i 列表示第 i 块芯片被其他芯片测试的结果
2、好芯片比坏芯片多,说明第 i 块芯片如果是好的,那么第 i 列数据中,1 的个数肯定多余 n / 2 ;如果是坏的,就少于 n / 2
import java.util.Scanner; public class Main { public static void main(String[] args) { Scanner scanner = new Scanner(System.in); while (scanner.hasNext()) { int n = scanner.nextInt(); int[] count = new int[n];// 记录第i块芯片测试结果中1出现的个数 int[][] result = new int[n][n];// 测试结果数据 for (int i = 0; i < n; i++) { for (int j = 0; j < n; j++) { result[i][j] = scanner.nextInt(); if (result[i][j] == 1) { count[j]++; } } } for (int i = 0; i < n; i++) { if (count[i] > n / 2) { System.out.print(i + 1); System.out.print(i == n - 1 ? "\r\n" : " "); } } } } }
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