最近一个项目，使用光耦作为AD采样芯片作为SPI的隔离使用。

众所周知，使用光耦嘛，速度肯定得降下来，于是把spi速度调整到了8Kbps，开始使用。

光耦电路是最标准也是最简单的电路。

板子是其它人画的，他们告诉我，此处的R258为680欧，R263为4.7K，U68为TLP181

作了简单的测试，基本没有问题，数据可以正常获取。

准备放到产品上去使用时，问题来了：经常读取到错误的数据，在仔细琢磨，难道是前端 AD采样不准？于是作为滤波处理，对采集到的数据进行kalman滤波，想着问题应该解决了。结果发现，还是有很大的偏差。

于是，做处理，每次对AD采集的数据进行处理，每采一次，记录cnt++，每发现一次与上一次的数据值相差>0.2V，记录err_cnt++，长期运行看。

运行一段时间后，发现err_cnt占总的cnt的比例接近4%，问题严重呢。

再次跟踪，看看当数据错误时，与正常数据的差值有多大，发现差别非常大，再仔细研究一下，发现约为正常值的1/2或是1/4左右，于是猜测，是否是spi读取时，某个位丢了，于是，把光耦拆了，直接连接看有没有错误。

拆除光耦，作数据读取，读取了一万个数据，发现，没有此类的错误，坚定信心，光耦的问题！。

仔细阅读 TLP181的数据手册，发现有这么一段y话：

嗯，怀疑上拉电阻有问题呢，于是，将R263改成了2K,问题明显改善，测试的错误率降低到了1%。哟，有戏，继续改，改电阻改成了1.2K，嗯，错误率没啥变化。

奇怪咧，难道是驱动电流不够？将R258改成了220欧，咦，错误率上升到了4%，想不通了。

怎么办？只在再细细扒数据手册了，正着看，反着看，看了不下十遍，突然看到这一段了

对啊， 需要考虑CTR呢，Ic和If的关系要对应呢那我该先多少的Ic和IF呢？

还是看手册

推荐的IF是16-20mA，那按照上面的说明，饱和的CTR至少是30%，于是选定If为16mA左右，Ic在10mA左右，根据此规格选R258和R262

R258 = (5 - 0.7)/16mA = 268欧

R263 = (3-0.2)/10mA =  300欧

于是选R258=220 R260 =300，替换原有的电阻，测试，读取了半个小时，一万次，错误率为0.

OK，搞定收工。

光耦作隔离的电阻问题