JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的简称，JTAG的两个标准IEEE 1149.1(2001)和IEEE 1149.7(2009)。

JTAG中主要包含两部分内容：TAP(TEST ACCESS PORT)和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE。

边界扫描的基本思想是：在靠近芯片输入输出引脚处，增加一个移位寄存器单元，称为边界扫描寄存器(Boundary-Scan Register cell)

在芯片处在debug模式下时，这些边界扫描寄存器可以将芯片和外围的input/output隔离开来，

对于input，可以通过边界扫描寄存器将信号或数据加载到该管脚中；

对于output，可以通过边界扫描寄存器得到该管脚上的输出信号；

在normal模式下，这些边界扫描寄存器对芯片是透明的。

管脚上的边界扫描寄存器可以相互连接起来，在芯片周围形成一个边界扫描链(Boundary-Scan Chain)；

一般芯片会有很多条独立的boundary-scan chain来灵活控制整个chip所有的input/output

TAP主要作用是来管理这些Boundary-Scan Chain，主要通过TAP Controller中的状态机FSM来作用。

TAP可以访问到芯片提供的所有的数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR)，Boundary-Scan Chain属于DR中很重要的一种。

TAP总共包含5个信号：

1)Test CLock Input(TCK)，TAP操作的独立，基本时钟；

2)Test Mode Selection Input(TMS)，控制TAP FSM中state的转变；

3)Test Data Input(TDI)，

4)Test Data Output(TDO)，

5)Test Reset Input(TRST)，对TAP Controller进行复位；不是强制要求的，也可以通过5个高脉冲的TMS产生；

通过Boundary-Scan Chain来control/observe 芯片的输入和输出的过程：

1)observe output，将管脚上的输出装载到Boundary-Scan Chain的寄存器中(Capture)，然后通过TDO输出(Shift)；

2)control input，将TDI中的信号移位到相应Boundary-Scan Chain的寄存器中(Shift)，然后将寄存器中的值加载到管脚上(Capture)；

DR表示数据寄存器，IR表示指令寄存器，

状态机主要分为DR和IR两条路，每条路都是先进行capture----shift----update，分别对应output的observe-----register shift------update pad

通过TAP接口访问数据寄存器(DR)的一般过程：

1)通过指令寄存器(IR)，选择一个需要访问的数据寄存器(DR)包括Boundary-Scan Chain；

2)将选定的数据寄存器连接到TDI和TDO之间；

3)由TCK驱动，FSM控制，pad

在标准IEEE 1149.1中，还规定了一些指令寄存器，公共指令，和相关的一些数据寄存器

芯片厂商一般还会在这个基础上扩建自己的寄存器，来方便debug

1)BYPASS指令和Bypass 寄存器，一位的寄存器，通过BYPASS指令，将bypass寄存器连接到TDI和TDO之间。提供通路测试；

2)IDCODE指令和Device Identification寄存器，Device Identification寄存器中包含生产厂商和部件号码的信息，使用IDCODE指令，

                    就可以通过TAP来访问这些信息；

3)INTEST指令和Boundary-Scan寄存器，Boundary-Scan寄存器就是Boundary-Scan Chain寄存器，是debug中最常用的DR，

                    INTEST命令是使用最频繁的一条指令；

ARM7的debug框图(新的cortex架构的core都采用trace的非侵入方式来debug，不再提供jtag接口)

ARM CPU Main Processor Logic：core的logic包括对debug的支持；

Embedded ICE-RT Logic：包含一组寄存器和比较器，产生debug exception, breakpoint,observe point

TAP Controller:控制jtag scan chain

JTAG