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从物理学的力矩平衡探讨无铅元件立碑

在SMT制造过程中相当多的企业会碰到立碑现象,特别是在无铅工艺技术应用后,由于无铅锡膏的浸润性变差,这种现象更为突出,工程师们在解决这个问题时方法各异,众多SMT技术论坛有非常多的技术人员在寻找解决方法,为有效解决这种现象,现从力学的观点来具体阐述。

关键词:力矩平衡、无铅器件、立碑

         

一、概念及故障现象:

什么叫立碑?矩形片式元件的一端在PCB的焊盘上,另一端翘起离开焊盘的现象叫立碑又叫曼哈顿现象。英文中称之为:tombstone或manhattan。

故障现象:

     上述图例在很多SMT加工企业都是常见的故障现象,特别是无铅工艺技术应用后,这更成为SMT工艺工程师们头痛的一个问题,那么我们在无铅产品制造过程中如何解决元件的立碑问题呢?本文重点将根据物理学力矩平衡角度来探讨立碑问题。

 

 

二、原因分析

  我们先来看一下器件贴装完成进回流炉前的状态受力分析:

T1:重力力矩

T2:元件焊盘与PCB焊盘正对方,锡膏对元件下表面产生的表面张力力矩

T3:锡膏对元件焊盘端产生的表面张力力矩

T4:分别是锡膏对侧面产生的表面张力力矩,

T5:分别是立碑侧产生的表面张力力矩,或者锡膏的黏附力力矩

要克服立碑就必须满足锡膏融化时T3-T5 ≤ T1+T2+T4要使等式成立我们就要从等式两边着手解决。这样才能更好地解决立碑。

表面张力与接触面积成正比,所以我们计算是按照线性关系计算

数据的计算:

1、  重力力矩T1的计算

根据公式  T1= G*L* cos (θ+α) /2(2* cos α)

其中G为元件质量*重力加速度g ;θ为平衡体系临界状态时的倾斜角度,α与H/L成正比。   

重力力距T1=G*L* cos (θ+α) /(2* cos α)

=mg*L/2* cos (θ+α) /cos α

mg*L/2[cosθ- tanα * sinθ]

其中tanα=H/L

2、T2、T4、T3计算

T3的计算:

T3=F3*W*h/2

其中h为爬锡高度,与网板的厚度有关。

T4的计算:

T4=F4*T*h/2

如果元件W与焊盘一样宽,W=w,接触面积≈0,表面张力也近似为0。

T4=0

T2的计算

T2=F2*W *T/2*cosθ

其中F2为表面张力。

   所以要解决立碑就必须满足:F3*W*h/2<mg*L/2[cosθ- tanα * sinθ]+ F2*W *T/2*cosθ+ F4*T*h/2

 

 

三、解决方案

从上面的我们对力矩计算不难发现,我们控制无铅元件立碑的方向:增加T1、T2、T4同时减少T3

3、  T1的增加

根据T1= mg*L/2[cosθ- tanα * sinθ]

所以我们的思路:

1)  增大G的值。这与元件本身材料有关,越是重的元件越不会立碑。需要厂家修改材料不很现实;

2)  增大L的值。说明越是长的元件越不容易立碑,也就是说,增大元件长度可以减少立碑几率。在生产过程中我们遇到一个0402的电容,L只有0.95mm,结果在生产过程中很容易立碑;

3)  减小θ+α的值。θ的值在过程中是变化的;α与h/L成正比,所以减小厚长比,即增加长厚比,可以减少立碑机率,像同质量的0402的普通电容(1.0*0.5*0.5)比电阻(0.1*0.5*0.25)容易出现立碑的现象。

4、  T2的增加

1)  增加元件两侧焊盘可焊性

2)  控制贴片、网印精度

3)  增大元件的T

4)  使网板开孔(两个PAD中心)朝零件中心移动(在贴片偏位或者网印偏位时相当增加T)为了不让元件中间产生锡珠,可以改变网孔形状“本垒板”这样可以解决问题。我们已经得到实践的证明。

5、  T4的增加,元件W变小,加大焊盘。这个力可以忽略

6、  T3的减少

1)  减少接触面积:

a)、减少网板厚度实验表明使用6mil网板比5mil产生立碑的概率大也可以减少细间距元件短路

b)、减少接触面积,可以减少元件宽度W。我做过一个实验将一个Y方向立碑概率较大的元件,只是将贴片坐标向X移动一点距离,取得很好的效果;

 

2)  减少表面张力

一、从锡膏本身产生的张力出发:

a)         产生立碑不是一个过程,是在0.2秒以内以至更短的时间内完成。两边融化不同步,如果我们的锡膏可以改进,使这个表面张力在一段时间内成线性逐渐递增。这就是所谓的防立碑锡膏的产生。对于合金一般需要共晶融化才能保证焊点以及焊接可焊性。

b)        锡膏成分中增加少量的Ag含量,一般以0.4%到0.6%为最佳,因为Ag超过2%时Ag含量越大立碑概率越大

c)        采用氮气保护,氧含量控制在1000PMM左右,但氧气浓度越低越容易立碑,

d)        检查升温曲线和预热时间是否符合规定,预热时间是否过长,过长使活性剂失去作用

e)         炉温曲线采用斜升式曲线比均温曲线立碑的比率小(实验已经证明);斜升式曲线温度曲线可用于任何化学成分或合金,必要时可以将回流区达到220度左右的斜率小一点

       

二、减少接触面积来减少表面张力,

a、采用20-60-20的圆弧形的“反本垒板”或者其他的“反本垒板”产生的立碑少

       b、必要时减少网板厚度;

 

四、结束语

    本文主要从受力分析着手解决SMT制程中容易出现的问题,希望通过此文同业界的朋友交流,同时也希望朋友们能批评指正。